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封装专栏四丨薄芯片 Die Crack 改善

文末ppt福利分享 IC流片封装测试 2022-01-15

主题选定:薄芯片 Die Crack 改善


选定理由:

  •  3mil厚Film芯片产品是目前量产的最薄芯片,贴片制程后持续发现 
  •  Die Crack由此引起质量/low yield等问题.
  • 由此客户抱怨,需要立即改善.
  • 找清真因,提高产品质量,提高客户的满意度.

















持续改善:薄芯片 Die Crack 机理同样适用于细长芯片,因此将 roll out 至细长芯片产品加以预防改善.



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